|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 32 van 38 gevonden artikelen
| Titel: |
Shear test on hard coated flip-chip bumps to measure back end of the line stack reliability |
| Auteur: |
Raghavan, Sathyanarayanan Sitaraman, Suresh K. |
| Verschenen in: |
Engineering fracture mechanics |
| Paginering: | Jaargang 178 (2017) nr. C pagina's 13 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 32 van 38 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |