|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Cohesive modeling of crack nucleation under diffusion induced stresses in a thin strip: Implications on the critical size for flaw tolerant battery electrodes |
| Auteur: |
Bhandakkar, Tanmay K. Gao, Huajian |
| Verschenen in: |
International journal of solids and structures |
| Paginering: | Jaargang 47 (2010) nr. 10 pagina's 11 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 13 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |