|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
Potentiostatic testing of plasma-deposited silicon nitride thin protective films for bonds, bondwires and bondpads in microelectronic assemblies |
| Auteur: |
Ulrich, Richard K. Yi, Donghyen Brown, William D. Ang, Simon S. |
| Verschenen in: |
Corrosion science |
| Paginering: | Jaargang 33 (1992) nr. 3 pagina's 10 p. |
| Jaar: |
1992 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 17 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |