|
The evolution of microstructure and electrical performance in doped Mn-Co and Cu-Mn oxide layers with the extended oxidation time |
|
|
|
Titel: |
The evolution of microstructure and electrical performance in doped Mn-Co and Cu-Mn oxide layers with the extended oxidation time |
Auteur: |
Guo, P.Y. Sun, H. Shao, Y. Ding, J.T. Li, J.C. Huang, M.R. Mao, S.Y. Wang, Y.X. Zhang, J.F. Long, R.C. Hou, X.H. |
Verschenen in: |
Corrosion science |
Paginering: |
Jaargang 172 () nr. C pagina's p. |
Jaar: |
2020 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier Ltd |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|