|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Quantitative secondary ion mass spectrometry analysis of oxygen isotopes and other light elements in silicon oxide films |
| Auteur: |
Croset, M. Dieumegard, D. |
| Verschenen in: |
Corrosion science |
| Paginering: | Jaargang 16 (1976) nr. 10 pagina's 13 p. |
| Jaar: |
1976 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |