|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 71 van 71 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray diffraction of multi-layer graphenes: Instant measurement and determination of the number of layers |
| Auteur: |
Huh, Seung Hun |
| Verschenen in: |
Carbon |
| Paginering: | Jaargang 78 (2014) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 71 van 71 gevonden artikelen
| << vorige |