|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Atomic-scale studies of native point defect and nonstoichiometry in silicon oxynitride |
| Auteur: |
Liu, B. Wang, J.Y. Li, F.Z. Tong, Q.F. Zhou, Y.C. |
| Verschenen in: |
Journal of physics and chemistry of solids |
| Paginering: | Jaargang 70 (2009) nr. 6 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |