|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 112 gevonden artikelen
| Titel: |
Breakdown spots propagation in ultra-thin SiO2 films under repetitive ramped voltage stress using conductive atomic force microscopy |
| Auteur: |
Wu, You-Lin Lin, Shi-Tin |
| Verschenen in: |
Journal of physics and chemistry of solids |
| Paginering: | Jaargang 69 (2008) nr. 2-3 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 112 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |