Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 12 van 112 gevonden artikelen
 
 
  Breakdown spots propagation in ultra-thin SiO2 films under repetitive ramped voltage stress using conductive atomic force microscopy
 
 
Titel: Breakdown spots propagation in ultra-thin SiO2 films under repetitive ramped voltage stress using conductive atomic force microscopy
Auteur: Wu, You-Lin
Lin, Shi-Tin
Verschenen in: Journal of physics and chemistry of solids
Paginering: Jaargang 69 (2008) nr. 2-3 pagina's 5 p.
Jaar: 2008
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 12 van 112 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland