|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Annealing of thin Zr films on Si1−x Ge x (0≤x≤1): X-ray diffraction and Raman studies |
| Auteur: |
Chaix-Pluchery, O. Chenevier, B. Aubry-Fortuna, V. Matko, I. |
| Verschenen in: |
Journal of physics and chemistry of solids |
| Paginering: | Jaargang 63 (2002) nr. 10 pagina's 12 p. |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |