|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray refractive index of silicon in the range 400 to 1100eV |
| Auteur: |
Woronick, S.C. Ng, W. Król, A. Kao, Y.H. |
| Verschenen in: |
Journal of physics and chemistry of solids |
| Paginering: | Jaargang 53 (1992) nr. 10 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1992 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 13 gevonden artikelen
| << vorige |