|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Macroscopic and microscopic examination of the relationship between crack velocity and path and Rayleigh surface wave speed in single crystal silicon |
| Auteur: |
Sherman, Dov |
| Verschenen in: |
Journal of the mechanics and physics of solids |
| Paginering: | Jaargang 53 (2005) nr. 12 pagina's 16 p. |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |