|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 7 gevonden artikelen
| Titel: |
Three dimensional finite element analysis of the evolution of voids and thin films by strain and electromigration induced surface diffusion |
| Auteur: |
Zhang, Y.W. Bower, A.F. Xia, L. Shih, C.F. |
| Verschenen in: |
Journal of the mechanics and physics of solids |
| Paginering: | Jaargang 47 (1998) nr. 1 pagina's 27 p. |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 7 gevonden artikelen
| << vorige |