|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
A finite element analysis of the motion and evolution of voids due to strain and electromigration induced surface diffusion |
| Auteur: |
Xia, L. Bower, A.F. Suo, Z. Shih, C.F. |
| Verschenen in: |
Journal of the mechanics and physics of solids |
| Paginering: | Jaargang 45 (1997) nr. 9 pagina's 21 p. |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 10 gevonden artikelen
| volgende >> |