|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
High resolution TEM and triple-axis XRD investigation into porous silicon formed on highly conducting substrates |
| Auteur: |
Wijesinghe, T.L. Sudesh L. Li, Shi Qiang Breese, Mark B.H. Blackwood, Daniel J. |
| Verschenen in: |
Electrochimica acta |
| Paginering: | Jaargang 54 (2009) nr. 13 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |