|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 48 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of strained Si wafer surface by density functional theory analysis |
| Auteur: |
Sakata, Kaoruho Homma, Takayuki Nakai, Hiromi Osaka, Tetsuya |
| Verschenen in: |
Electrochimica acta |
| Paginering: | Jaargang 51 (2005) nr. 5 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 48 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |