|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 22 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
On the dependence of the Nernst diffusion layer thickness on potential and sweep rate for reversible and of the thickness of the charge transfer layer for irreversible processes studied by application of the linear potential sweep method |
| Auteur: |
Velasco, Jaime González |
| Verschenen in: |
Electrochimica acta |
| Paginering: | Jaargang 51 (2006) nr. 14 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 22 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |