|
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
5 gevonden resultaten
| nr | titel | auteur | tijdschrift | jaar | jaarg. | afl. | pagina('s) | type |
| 1 | AI Planner Assisted Test Generation |
Anneliese K. Amschler Andrews |
2002 |
10 | 3 |
p. 225-259 35 p. |
artikel |
|
| 2 | Editorial: Why Good Software Goes Bad |
James Bieman |
2002 |
10 | 3 |
p. 201-203 3 p. |
artikel |
|
| 3 | Experiences in the Application of Software Process Improvement in SMES |
Jose A. Calvo-Manzano Villalón |
2002 |
10 | 3 |
p. 261-273 13 p. |
artikel |
|
| 4 | In This Issue |
James Bieman |
2002 |
10 | 3 |
p. 199-200 2 p. |
artikel |
|
| 5 | Specification-based Testing for Gui-based Applications |
Jessica Chen |
2002 |
10 | 3 |
p. 205-224 20 p. |
artikel |
5 gevonden resultaten