|
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
7 gevonden resultaten
| nr | titel | auteur | tijdschrift | jaar | jaarg. | afl. | pagina('s) | type |
| 1 | A model-based clustering approach to the recognition of the spatial defect patterns produced during semiconductor fabrication |
Yuan, Tao |
2008 |
40 | 2 |
p. 93-101 |
artikel |
|
| 2 | An economic comparison of CUSUM and Shewhart charts |
Nenes, George |
2008 |
40 | 2 |
p. 133-146 |
artikel |
|
| 3 | Holistic reliability analysis of weighted voting systems from a multi-state perspective |
Ramirez-Marquez, Jose Emmanuel |
2008 |
40 | 2 |
p. 122-132 |
artikel |
|
| 4 | Optimal specifications for degrading characteristics |
Joseph, V. Roshan |
2008 |
40 | 2 |
p. 102-108 |
artikel |
|
| 5 | Probability and Random Processes |
Krishnan, V. |
2008 |
40 | 2 |
p. 160 |
artikel |
|
| 6 | Simultaneous optimization of X¯ control chart and age-based preventive maintenance policies under an economic objective |
Yeung, Thomas G. |
2008 |
40 | 2 |
p. 147-159 |
artikel |
|
| 7 | Variability monitoring of multistage manufacturing processes using regression adjustment methods |
Zeng, Li |
2008 |
40 | 2 |
p. 109-121 |
artikel |
7 gevonden resultaten