|
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
11 gevonden resultaten
| nr | titel | auteur | tijdschrift | jaar | jaarg. | afl. | pagina('s) | type |
| 1 | A Method for Patching Interleaving-Replay Attacks in Faulty Security Protocols |
Pimentel, Juan Carlos Lopez |
2007 |
174 | 4 |
p. 117-130 14 p. |
artikel |
|
| 2 | An Automated Approach for the Interpretation of Counter-Examples |
van den Berg, Lionel |
2007 |
174 | 4 |
p. 19-35 17 p. |
artikel |
|
| 3 | Automated Fault Localization for C Programs |
Griesmayer, Andreas |
2007 |
174 | 4 |
p. 95-111 17 p. |
artikel |
|
| 4 | Automated Techniques for Surviving (Otherwise) Fatal Software Errors |
Rinard, Martin |
2007 |
174 | 4 |
p. 113-116 4 p. |
artikel |
|
| 5 | Dynamic Reverse Code Generation for Backward Execution |
Lee, Jooyong |
2007 |
174 | 4 |
p. 37-54 18 p. |
artikel |
|
| 6 | Error Diagnosis in Equivalence Checking of High Performance Microprocessors |
Sen, Alper |
2007 |
174 | 4 |
p. 9-18 10 p. |
artikel |
|
| 7 | From Error to Error: Logic Debugging in the Many-Core Era |
Moondanos, John |
2007 |
174 | 4 |
p. 3-7 5 p. |
artikel |
|
| 8 | Model-Based Debugging – State of the Art And Future Challenges |
Mayer, Wolfgang |
2007 |
174 | 4 |
p. 61-82 22 p. |
artikel |
|
| 9 | On the Use of Functional Test Generation in Diagnostic Test Generation for Synchronous Sequential Circuits |
Pomeranz, Irith |
2007 |
174 | 4 |
p. 83-93 11 p. |
artikel |
|
| 10 | Preface |
Bloem, Roderick |
2007 |
174 | 4 |
p. 1- 1 p. |
artikel |
|
| 11 | Where Do Bugs Come From? |
Zeller, Andreas |
2007 |
174 | 4 |
p. 55-59 5 p. |
artikel |
11 gevonden resultaten