|
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
10 gevonden resultaten
| nr | titel | auteur | tijdschrift | jaar | jaarg. | afl. | pagina('s) | type |
| 1 | Architectural Unit Testing |
Scollo, Giuseppe |
2005 |
111 | C |
p. 27-52 26 p. |
artikel |
|
| 2 | Heuristics for Faster Error Detection With Automated Black Box Testing |
Kervinen, Antti |
2005 |
111 | C |
p. 53-71 19 p. |
artikel |
|
| 3 | Lightweight Specification-based Testing of Memory Cards: A Case Study |
Cho, Seung Mo |
2005 |
111 | C |
p. 73-91 19 p. |
artikel |
|
| 4 | Model-Based Built-In Tests |
Gross, Hans-Gerhard |
2005 |
111 | C |
p. 161-182 22 p. |
artikel |
|
| 5 | Model Based Testing in Practice at Microsoft |
Stobie, Keith |
2005 |
111 | C |
p. 5-12 8 p. |
artikel |
|
| 6 | Multi-paradigm Models as Source for Automated Test Construction |
Kuliamin, Victor V. |
2005 |
111 | C |
p. 137-160 24 p. |
artikel |
|
| 7 | Preface |
Gurevich, Yuri |
2005 |
111 | C |
p. 1-3 3 p. |
artikel |
|
| 8 | ProTest: An Automatic Test Environment for B Specifications |
Satpathy, Manoranjan |
2005 |
111 | C |
p. 113-136 24 p. |
artikel |
|
| 9 | Systematic Model-Based Testing of Embedded Automotive Software |
Conrad, Mirko |
2005 |
111 | C |
p. 13-26 14 p. |
artikel |
|
| 10 | Test Selection Strategies for Lustre Descriptions in GATeL |
Marre, Bruno |
2005 |
111 | C |
p. 93-111 19 p. |
artikel |
10 gevonden resultaten