Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             13 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 Calibration of optical systems for the measurement of microcomponents Pedrini, G.
2009
47 2 p. 203-210
8 p.
artikel
2 Dynamic out-of-plane profilometry for nano-scale full-field characterization of MEMS using stroboscopic interferometry with novel signal deconvolution algorithm Chen, Liang-Chia
2009
47 2 p. 237-251
15 p.
artikel
3 Editorial Board 2009
47 2 p. IFC-
1 p.
artikel
4 Inspection of axial stress and refractive index distribution in polarization-maintaining fiber with tomographic methods Kniazewski, Pawel
2009
47 2 p. 259-263
5 p.
artikel
5 Interferometric profiling of microcantilevers in liquid Reed, Jason
2009
47 2 p. 217-222
6 p.
artikel
6 Low-frequency static characterization of microstructures using acousto-optic modulated stroboscopic interferometer Pai, Murali Manohar
2009
47 2 p. 230-236
7 p.
artikel
7 Recent developments in interferometry for microsystems metrology Krishna Mohan, Nandigana
2009
47 2 p. 199-202
4 p.
artikel
8 Simple versatile shearing interferometer suitable for measurements on a microscopic scale Mihaylova, Emilia
2009
47 2 p. 271-273
3 p.
artikel
9 Static and dynamic characterization of AlN-driven microcantilevers using optical interference microscopy Krupa, Katarzyna
2009
47 2 p. 211-216
6 p.
artikel
10 Stroboscopic digital speckle pattern interferometry for vibration analysis of microsystem Yang, L.X.
2009
47 2 p. 252-258
7 p.
artikel
11 Study on aberration suppressing methods in digital micro-holography Zhou, Wenjing
2009
47 2 p. 264-270
7 p.
artikel
12 Super-resolution digital speckle photography for micro/nano measurements Chiang, Fu-Pen
2009
47 2 p. 274-279
6 p.
artikel
13 Two-wavelength micro-interferometry for 3-D surface profiling Kumar, U. Paul
2009
47 2 p. 223-229
7 p.
artikel
                             13 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland