Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
Zoeken naar met titel:
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ

     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             9 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 A new multi-layer ion implantation model for process simulation Pantić, D.
 1989
 20 6 p. 5-10
6 p.
 artikel
2 Editorial Butcher, John
 1989
 20 6 p. 4-
1 p.
 artikel
3 Effects of nitrogen and argon as carrier gases and annealing ambients on the physical properties of PECVD silicon nitride Shams, Q.A.
 1989
 20 6 p. 49-59
11 p.
 artikel
4 Forthcoming events 1989
 20 6 p. 64-
1 p.
 artikel
5 Gate oxide breakdown statistics in wearout tests of metal-oxide-semiconductor structures Suñé, J.
 1989
 20 6 p. 27-39
13 p.
 artikel
6 Interface properties of two step thin gate oxides using 1,1,1-trichloroethane Bhan, R.K.
 1989
 20 6 p. 41-48
8 p.
 artikel
7 Investigation of gate oxide breakdown in CMOS integrated circuits Peŝić, B.
 1989
 20 6 p. 19-26
8 p.
 artikel
8 Research and development 1989
 20 6 p. 61-63
3 p.
 artikel
9 The effect of composition and exposure to external factors on the electronic structure of amorphous silicon nitride in memory devices Domashevskaya, E.P.
 1989
 20 6 p. 11-18
8 p.
 artikel
                             9 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland