Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             15 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 A different approach to the analysis of data in life-tests of laser diodes Bonfiglio, A.
1998
38 5 p. 767-771
5 p.
artikel
2 Availability modeling of energy management systems Fricks, Ricardo M.
1998
38 5 p. 727-743
17 p.
artikel
3 Better graphs for dependability modeling Schneeweiss, Winfrid G.
1998
38 5 p. 807-820
14 p.
artikel
4 Book review 1998
38 5 p. 841-
1 p.
artikel
5 Book review 1998
38 5 p. 839-840
2 p.
artikel
6 Carrier mobility in inversion layers of Si–thin Ta2O5 structures Atanassova, E.
1998
38 5 p. 833-837
5 p.
artikel
7 Characterization of the silicon nitride–thermal oxide interface in oxide–nitride–oxide structures by ELS, XPS, ellipsometry, and numerical simulation Gritsenko, V.A.
1998
38 5 p. 745-751
7 p.
artikel
8 Electrical properties of thin Ta2O5 films obtained by thermal oxidation of Ta on Si Atanassova, E.
1998
38 5 p. 827-832
6 p.
artikel
9 Extraction method for source series resistance and transverse field mobility reduction coefficient using the MOSFET saturation region Ionescu, A.M.
1998
38 5 p. 753-758
6 p.
artikel
10 Facet heating and axial temperature profiles in high-power GaAlAs/GaAs laser diodes Menzel, U.
1998
38 5 p. 821-825
5 p.
artikel
11 Influence of the silicon nitride oxidation on the performances of NCLAD isolation 1 Expanded version of a talk presented at the European Solid State Device Research Conference, ESSDERC'96, Bologna, Italy, September 1996. 1 Tixier, A.
1998
38 5 p. 795-805
11 p.
artikel
12 Long-term base current instability in AlGaAs/GaAs HBTs: physical mechanisms, modeling, and SPICE simulation Liou, J.J.
1998
38 5 p. 709-725
17 p.
artikel
13 The electrical properties of Al/Ni/Ge/n-GaAs interfaces Dávid, L.
1998
38 5 p. 787-793
7 p.
artikel
14 Transient behavior and low V DS hysteresis in PD SOI MOSFETs Perron, L.M
1998
38 5 p. 759-765
7 p.
artikel
15 Use of C-SAM acoustical microscopy in package evaluations and failure analysis Atkins, S
1998
38 5 p. 773-785
13 p.
artikel
                             15 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland