|
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
8 gevonden resultaten
| nr | titel | auteur | tijdschrift | jaar | jaarg. | afl. | pagina('s) | type |
| 1 | Accelerated life testing and over-stress testing of transistors |
Groocock, J.M. |
1963 |
2 | 3 |
p. 191-204 14 p. |
artikel |
|
| 2 | A survey of methods of measuring thin film thicknesses and surface irregularities |
Wright, P. |
1963 |
2 | 3 |
p. 227-233 7 p. |
artikel |
|
| 3 | Open and short circuit failure of hammock networks |
Blake, D.V. |
1963 |
2 | 3 |
p. 205-206 2 p. |
artikel |
|
| 4 | Properties of thin film and silicon solid state components—Their effect on microcircuit performance |
Ekiss, J.A. |
1963 |
2 | 3 |
p. 167-178 12 p. |
artikel |
|
| 5 | Stress in thin dielectric films |
Campbell, D.S. |
1963 |
2 | 3 |
p. 207-213 7 p. |
artikel |
|
| 6 | Thermal characteristics of potted electronic modules |
Gonzalez, J.I. |
1963 |
2 | 3 |
p. 179-186 8 p. |
artikel |
|
| 7 | The Step Stress method of accelerated life testing |
Honeychurch, J. |
1963 |
2 | 3 |
p. 215-225 11 p. |
artikel |
|
| 8 | Use of photo-initiated surface reactions to produce microcircuitry |
White, P. |
1963 |
2 | 3 |
p. 161-162 2 p. |
artikel |
8 gevonden resultaten