|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 37 gevonden artikelen
| Titel: |
In-Process Measurement of Thickness of Cured Resin in Evanescent-Wave-Based Nano-stereolithography Using Critical Angle Reflection |
| Auteur: |
Kong, Deqing Michihata, Masaki Takamasu, Kiyoshi Takahashi, Satoru |
| Verschenen in: |
Nanomanufacturing and metrology |
| Paginering: | Jaargang 1 (2018) nr. 2 pagina's 112-124 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Singapore, Singapore |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 37 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |