|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 68 van 95 gevonden artikelen
| Titel: |
Modeling and Verification of Interface and Bulk Trap Level Density Extraction in SONOS Memory Charge Trapping Layer |
| Auteur: |
Nam, Ki-Ryung Jeong, Jun-Kyo Sung, Jae-Young Lee, Ga-Won |
| Verschenen in: |
Transactions on electrical and electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 22 () nr. 3 pagina's 372-377 |
| Jaar: |
2021-04-27 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers (KIEEME), Seoul |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 68 van 95 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |