|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 8 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) and Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) Study of the Tarnishing of Metal-coated Textiles |
| Auteur: |
Howell, D. Mitchell, R. Carr, C. M. Walton, J. |
| Verschenen in: |
The journal of the Textile Institute |
| Paginering: | Jaargang 90 (1999) nr. 3 pagina's 50-59 |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: |
The nature of the corrosion present on the surface of gold-coated silver thread has been studied. The surface-sensitive XPS technique has demonstrated silver migration to the surface and subsequent reaction with atmospheric sulphur. The influence of associated sulphur-containing textile fibres has been investigated and the presence of other unidentified surface contaminants demonstrated by XPS and ToF-SIMS. |
| Uitgever: |
Taylor & Francis |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 8 gevonden artikelen
| << vorige |