|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Three-terminal current gain measurements of high-power thyristors |
| Auteur: |
Fulop, W. Yan, W. Fong Joadat-Ghassabi, M. R. Hogarth, C. A. |
| Verschenen in: |
International journal of electronics |
| Paginering: | Jaargang 33 (1972) nr. 6 pagina's 601-609 |
| Jaar: |
1972-12-01 |
| Inhoud: |
The current-gain values of the effective component transistors of a thyristor structure arc measured by a method originally due to Fulop (1963) and the technique is shown to be applicable to measurements on high-power thyristors, provided that certain precautions are taken with the measuring system. |
| Uitgever: |
Taylor & Francis |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 15 gevonden artikelen
| << vorige |