|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 36 gevonden artikelen
| Titel: |
A study of phase transformations in rapid thermal processed sol gel PZT using glancing angle x-ray diffraction |
| Auteur: |
Griswold, E. M. Sayer, M. Weaver, L. |
| Verschenen in: |
Integrated ferroelectrics |
| Paginering: | Jaargang 8 (1995) nr. 1-2 pagina's 109-120 |
| Jaar: |
1995-03-01 |
| Inhoud: |
A technique is established for depth profiling of thin film PZT using glancing angle x-ray diffraction. The transformation of PZT from the pyrochlore to perovskite phase is monitored throughout the thickness of the films. Thin film PZT was deposited using the sol gel technique. The effects of substrate, linear ramp rate, hold temperature and hold time on crystal nucleation and growth were investigated using rapid thermal annealing. The films crystallized on platinum into the perovskite phase through a highly textured interfacial region to a non-textured region at the surface, while films on ITO showed a random texture. Transforming the PZT films to perovskite and limiting the texture to the interfacial region was achieved using a ramp rate of 50°C/s and a hold time of 650°C/30s. |
| Uitgever: |
Taylor & Francis |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 36 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |