|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 81 van 127 gevonden artikelen
| Titel: |
Multilayer capacitor margin stresses and electrode to dielectric thickness calculations |
| Auteur: |
Carlson, William Rutt, Truman Wild, Michael |
| Verschenen in: |
Ferroelectrics letters section |
| Paginering: | Jaargang 21 (1996) nr. 1-2 pagina's 1-9 |
| Jaar: |
1996-04-01 |
| Inhoud: |
The mismatch of thermal expansion coefficients in co-fired multilayer capacitors (MLCs) leads to development of residual stress on cooling. These stresses are of a compressive nature for the multilayer stack and a tensile character for the ceramic margin. A closed-form stress calculation of the critical ratio of electrode thickness to ceramic dielectric thickness in the stack shows a limiting ratio of approximately 1:2. Design equations are given in order to calculate the multilayer electrode to dielectric thickness ratio. The required design parameters are the linear thermal expansion coefficients, the temperature difference, the Young's moduli, the strength of the ceramic margin, and the ratio of active to inactive capacitor area. |
| Uitgever: |
Taylor & Francis |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 81 van 127 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |