|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 5 gevonden artikelen
| Titel: |
LIQUID FILM THICKNESS AND TOPOGRAPHY DETERMINATION USING FRESNEL DIFFRACTION AND HOLOGRAPHY |
| Auteur: |
Yang, J. Chow, L. C. Pais, M. R. Ito, A. |
| Verschenen in: |
Experimental heat transfer |
| Paginering: | Jaargang 5 (1992) nr. 4 pagina's 239-252 |
| Jaar: |
1992-10-01 |
| Inhoud: |
A noninvasive experimental method to measure time-averaged maximum film thickness and surface topography is developed. The film thickness is measured by the change in the line of sight using a laser beam. The surface topography is measured using a holographic technique. In the holographic method, interference patterns created by the substrate and the superjacent film surface are used to determine the topography. Measurements of liquid film thickness and topography under conditions of droplet impingement on a surface were taken, and the results are presented. Applicability and limitations of the techniques are discussed. |
| Uitgever: |
Taylor & Francis |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 5 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |