|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Plasma Etching of TEM Samples for Observing Grain Boundaries in Silicon Nitride |
| Auteur: |
Suematsu, Hisayuki Bando, Yoshio Mitomo, Mamoru |
| Verschenen in: |
Journal of electron microscopy |
| Paginering: | Jaargang 44 (1995) nr. 3 pagina's 159-164 |
| Jaar: |
1995-06 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Oxford University Press, Oxford |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |