|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 5 gevonden artikelen
| Titel: |
New Method of Detecting Secondary Electrons on Scanning Electron Microscope |
| Auteur: |
TAMURA, Hifumi KIMURA, Hirokazu |
| Verschenen in: |
Journal of electron microscopy |
| Paginering: | Jaargang 17 (1968) nr. 2 pagina's 106-111 |
| Jaar: |
1968-NaN |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Oxford University Press, Oxford |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 5 gevonden artikelen
| << vorige |
Toegankelijkheidsverklaring