|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 34 van 53 gevonden artikelen
| Titel: |
Marginal Analysis of Correlated Failure Time Data with Informative Cluster Sizes |
| Auteur: |
Cong, Xiuyu J. Yin, Guosheng Shen, Yu |
| Verschenen in: |
Biometrics |
| Paginering: | Jaargang 63 (2007) nr. 3 pagina's 663-672 |
| Jaar: |
2007-09 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Blackwell Publishing Inc, Malden, USA |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 34 van 53 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |