|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of Capacitance Standards at High Frequency at National Physical Laboratory, India |
| Auteur: |
Satish, Swami, Jyoti Babita, John, Thomas |
| Verschenen in: |
Mapan |
| Paginering: | Jaargang 33 (2017) nr. 2 pagina's 131-137 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer India, New Delhi |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 13 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |