|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 124 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of nano-depth junctions in silicon by using Photo-Carrier Radiometry (PCR) |
| Auteur: |
Garcia, J. A. Guo, X. Mandelis, A. Shaughnessy, D. Nicolaides, L. Salnik, A. |
| Verschenen in: |
The European physical journal special topics |
| Paginering: | Jaargang 153 (2008) nr. 1 pagina's 287-290 |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
EDP Sciences, Les Ulis |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 124 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |