Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige   
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 29 van 29 gevonden artikelen
 
 
  Using an atomic force microscope in the surface modification regime to determine the migration energy of surface defects
 
 
Titel: Using an atomic force microscope in the surface modification regime to determine the migration energy of surface defects
Auteur: Blagov, E. V.
Mostepanchenko, V. M.
Klimchitskaya, G. L.
Verschenen in: Technical physics
Paginering: Jaargang 44 (1999) nr. 8 pagina's 964-969
Jaar: 1999
Inhoud:
Uitgever: Nauka/Interperiodica, Moscow
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 29 van 29 gevonden artikelen
 
<< vorige   
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland