Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 27 van 237 gevonden artikelen
 
 
  An Integral approach to measurement of surface roughness parameters from light scattering in dielectric waveguides
 
 
Titel: An Integral approach to measurement of surface roughness parameters from light scattering in dielectric waveguides
Auteur: Osovitskii, A. N.
Verschenen in: Journal of communications technology & electronics
Paginering: Jaargang 56 (2011) nr. 1 pagina's 35-38
Jaar: 2011
Inhoud:
Uitgever: SP MAIK Nauka/Interperiodica, Dordrecht
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 27 van 237 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland