|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 85 gevonden artikelen
| Titel: |
Ein Bayes’scher Ansatz zur Bewertung technischer Risiken im Entwicklungsprozess |
| Auteur: |
Kempf, Michael |
| Verschenen in: |
Informatik |
| Paginering: | Jaargang 22 (2007) nr. 2 pagina's 85-94 |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 85 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |