|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 213 van 259 gevonden artikelen
| Titel: |
SEM Linear Measurement in a Wide Magnification Range |
| Auteur: |
Ch. P. Volk E. S. Gornev Yu. A. Novikov Yu. V. Ozerin Yu. I. Plotnikov A. V. Rakov |
| Verschenen in: |
Russian microelectronics |
| Paginering: | Jaargang 33 (2004) nr. 6 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2004-11/12-/12 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic/Plenum Publishers, New York, U.S.A. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 213 van 259 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |