Optical examination of high contrast grating fabricated by focused-ion beam etching
Titel:
Optical examination of high contrast grating fabricated by focused-ion beam etching
Auteur:
Urbańczyk, Dominika Wójcik-Jedlińska, Anna Muszalski, Jan Łaszcz, Adam Płuska, Mariusz Gębski, Marcin Czyszanowski, Tomasz Czerwinski, Andrzej Bugajski, Maciej