|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Electron Probe Measurements of Oxide Film Thickness on Silicon Surfaces |
| Auteur: |
Gavrilenko, V. P. Kuzin, A. Yu. Mityukhlyaev, V. B. Stepovich, M. A. Todua, P. A. Filippov, M. N. |
| Verschenen in: |
Measurement techniques |
| Paginering: | Jaargang 58 (2015) nr. 9 pagina's 953-957 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |