|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 52 van 60 gevonden artikelen
| Titel: |
Measurement of the Minority Carrier Diffusion Length in Thin Wafers of Semiconductor Crystals |
| Auteur: |
Bolesov, I. A. Astakhov, V. P. Karpov, V. V. |
| Verschenen in: |
Instruments and experimental techniques |
| Paginering: | Jaargang 46 (2003) nr. 2 pagina's 225-227 |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers-Plenum Publishers, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 52 van 60 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |