|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 29 gevonden artikelen
| Titel: |
Single-crystal X-ray diffraction analysis of nonplanar autoepitaxial silicon layers |
| Auteur: |
Bublik, V. T. Kozhitov, L. V. Kondratenko, T. T. |
| Verschenen in: |
Inorganic materials |
| Paginering: | Jaargang 45 (2009) nr. 14 pagina's 1610-1613 |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
SP MAIK Nauka/Interperiodica, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 29 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |