|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 33 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
Using in-line equipment condition and yield information for maintenance scheduling and dispatching in semiconductor wafer fabs |
| Auteur: |
Sloan, Thomas W. Shanthikumar, J. George |
| Verschenen in: |
IIE Transactions |
| Paginering: | Jaargang 34 (2002) nr. 2 pagina's 191-209 |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 33 van 33 gevonden artikelen
| << vorige |