|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
The dynamic T2 chart for monitoring feedback-controlled processes |
| Auteur: |
Tsung, Fugee Apley, Daniel W. |
| Verschenen in: |
IIE transactions |
| Paginering: | Jaargang 34 (2002) nr. 12 pagina's 1043-1053 |
| Jaar: |
2002-12-01 |
| Inhoud: |
As manufacturing quality has become a decisive factor in global market competition, statistical quality techniques such as Statistical Process Control (SPC) are widely used in industry. With advances in information, sensing, and data collection technology, large volumes of data are routinely available in processes employing Automatic Process Control (APC) and Engineering Process Control (EPC). Although there is a growing need for SPC monitoring in these feedback-controlled environments, an effective implementation scheme is still lacking. This research provides a monitoring method, termed the dynamic T1 chart that improves the detection of assignable causes in feedback-controlled processes. |
| Uitgever: |
Taylor & Francis |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |