|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 36 gevonden artikelen
| Titel: |
Economic allocation of test times for subsystem-level reliability growth testing |
| Auteur: |
DAVID W. COIT |
| Verschenen in: |
IIE Transactions |
| Paginering: | Jaargang 30 (1998) nr. 12 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
1998-12 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 36 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |