Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 4 van 11 gevonden artikelen
 
 
  A Sequential Inspection Plan for Markov Dependent Production Processes
 
 
Titel: A Sequential Inspection Plan for Markov Dependent Production Processes
Auteur: Bhat, U. Narayan
Lal, Ram
Karunaratne, Mahinda
Verschenen in: IIE transactions
Paginering: Jaargang 22 (1990) nr. 1 pagina's 56-64
Jaar: 1990-03-01
Inhoud: Single sampling plans used for lot acceptance are modified for use in monitoring production processes which exhibit Markov dependence in quality attributes. An augmented Markov chain model is employed for the determination of plan characteristics. Plans for dependent processes are compared with those for independent processes through numerical computations.
Uitgever: Taylor & Francis
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 4 van 11 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland