|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
Bayesian degradation modeling for reliability prediction of organic light-emitting diodes |
| Auteur: |
Bae, Suk Joo Yuan, Tao Kim, Seong-joon |
| Verschenen in: |
Journal of computational science |
| Paginering: | Jaargang 17 (2016) nr. P1 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |