|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 106 van 108 gevonden artikelen
| Titel: |
Verification of SEU resistance in 65 nm high-performance SRAM with dual DICE interleaving and EDAC mitigation strategies |
| Auteur: |
He, Ze Zhao, Shi-Wei Liu, Tian-Qi Cai, Chang Yan, Xiao-Yu Gao, Shuai Liu, Yu-Zhu Liu, Jie |
| Verschenen in: |
Nuclear science and techniques |
| Paginering: | Jaargang 32 () nr. 12 pagina's xx |
| Jaar: |
2021-12-13 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Singapore, Singapore |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 106 van 108 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |